貼片電容測(cè)試容值時(shí)需注意的問題

貼片電容使用企業(yè)，在購入MLCC后的入庫檢驗(yàn)是一個(gè)必要的流程和步驟。但是由于對(duì)疊層陶瓷貼片電容的檢驗(yàn)測(cè)試條件，有些人員可能了解的不夠準(zhǔn)確，因而導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果與標(biāo)稱值有偏差。南京南山在十一年來的風(fēng)華高科片容銷售過程中，經(jīng)歷過多次類似偶發(fā)案例。為此南山技術(shù)部特別撰寫了關(guān)于《疊層片式陶瓷電容器電容量測(cè)試需要注意的幾個(gè)問題》，僅供參考。如有疑問，請(qǐng)致電400-888-5058轉(zhuǎn)技術(shù)部或登錄rifengwujin.cn在線咨詢。

當(dāng)用數(shù)字電橋?qū)N片電容的容量值進(jìn)行測(cè)試時(shí)，需注意的問題：
 
一、對(duì)于不同的容值，測(cè)試條件是不一樣的。具體見下表
 
二、注意：
1、這里的電壓必須是交流，而且是恒電壓（即：當(dāng)被測(cè)電容接入測(cè)試夾具開始測(cè)試時(shí)，測(cè)試儀器真正施加在該被測(cè)電容二端的電壓能恒定達(dá)到儀器所顯示的電壓值），否則就會(huì)造成測(cè)量的不準(zhǔn)確。尤其是測(cè)量大容量在10uF以上時(shí)，影響就更加明顯。
2、選擇的測(cè)試頻率對(duì)應(yīng)不同容值也是不一樣的，尤其大容量電容。由Xc=1/2∏fc可知，頻率越高對(duì)應(yīng)容抗越低，由于設(shè)備內(nèi)阻一定，所以頻率越高時(shí)，輸出電壓越低，測(cè)得的容值就越低。
三、特別提醒: 
     當(dāng)電容容值低于1000uF時(shí)需選用并聯(lián)方式(Cp)測(cè)量，當(dāng)電容容值超過1000uF時(shí)需選用串聯(lián)方
     式(Cs)測(cè)量。

南京南山半導(dǎo)體有限公司
2013.01.23